Проверка соответствия параметров электроэнцефалограммы требованиям, предъявляемым к параметрам в задачах высоконадежной биометрии

Авторы ВВГУ:
  • Боршевников Алексей Евгеньевич
Издательство:

Изд-во ТПУ

Год издания:

2017

Тип:

публикация в сборнике научных трудов/статей

Сборник:

Сборник трудов XIV Международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых «Молодежь и современные информационные технологии»

Страницы:

47 - 48

Место,
дата проведения:

г. Томск, ТПУ , 07 - 11 ноября 2016

Страницы:

.1600

Файлы: