Исследование фрактальных методов замедления процессов структурной деградации изделий наноэлектроники

Авторы ВВГУ
  • Игнатюк Виктор Александрович
  • Юдин Виталий Витальевич
Период:

01.01.2008 - 31.12.2010 гг.

Уровень проекта:

Федеральные (МинОбрНауки)

Финансирование:

Федеральное агентство по образованию

Цель проекта:

Развитие теории процессов структурной релаксации и структурной деградации системных дефектов в перспективных планарных средах наноэлектроники при термических и радиационных нагружениях.

Результаты:

Полученные результаты:1. Модели процессов структурной релаксации системных дефектов аморфных и металлических стекол в планарной топологии.2. Методы и методики по количественному определению фрактальных характеристик системных  дефектов неравновесных разупорядоченных планарных сред в кинетических процессах.3. Эффект адаптивной структурной устойчивости стеклоподобных аморфных планарных сред, индуцированный радиационным облучением. Технологическая схема получения неравновесных сред с иерархической структурой, которая будет наделяться соответствующим негэнтропийным потенциалом.